میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

آنالیزها و تجهیزات

نوشته شده توسط:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ، تصاویری با رزولوشن اتمی یا نزدیک اتمی از توپوگرافی سطح را نمایش می‌ دهد. همچنین قادر به تشخیص سختی سطح نمونه تا مقیاسی کوچکتر از آنگستروم است. به علاوه، جهت تصویر برداری از سطح، AFM قادر به اندازه گیری ابعادی همچون ارتفاع است. همچنین میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) که متفاوت از AFM است قادر به ارائه نقشه ای از دوقطبی های مغناطیسی موجود در نمونه است.

تجهیزات مربوطه که در آنابیز می توانید مشاهده کنید :

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)(Mobile S) 

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)(Easy scan 2)

کاربردها:

  • بررسی ویفرها (SiO2، GaAs، SiGe و …) قبل و بعد از فرآوری
  • تشخیص اثرات فرآوری (تریتمنت پلاسمایی و …) بر تجهیزات پزشکی همچون لنزهای بینایی، سوند و اسنت‌های پوشش دار
  • آزمایش تاثیر سختی سطح بر کشش سطحی
  • بررسی شکل / میزان تمیزی حفرات بر ویفرهای الگو دار شده
  • تشخیص مورفولوژی حتی در سطوح ناواضح

کاربردهای اصلی:

  • تصویربرداری توپوگرافیک سطوح سه بعدی همچون سختی سطح، اندازه دانه ها و ارتفاع پستی بلندی ها
  • تصویربرداری از دیگر مشخصه های نمونه همچون میدان مغنایسی، ظرفیت الکتریکی، فاز و سایش

مشخصات فنی:

  • سیگنال تشخیص داده شده: توپوگرافی
  • رزولوشن افقی : ۰/۱ آنگستروم
  • تصویربرداری/ نقشه کشی: بله
  • زولوشن عمقی/ اندازه پروب : ۱۵ تا ۵۰ آنگستروم

توانایی:

  • محاسبه سختی سطح
  • تحلیل ویفر کامل (بیش از ۳۰۰ میلی متر)
  • رزولوشن فضایی بالایی

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *