دسته: آنالیزها و تجهیزات
LA-ICP-MS
Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry ( LA-ICP-MS ) در روش LA-ICP-MS، نمونه مستقیما با باریکه لیزری پالسی فرسایش داده می شود (ablation). آئروسل های ساخته …
طیف سنجی انتشار اشعه X با انرژی کم، LEXES
در آنابیز با یک آزمون دیگر به نام طیف سنجی انتشار اشعه X با انرژی کم، LEXES ،آشنا می شویم که یک تکنیک آنالیزی نزدیک سطح می …
پروفایلومتر اپتیکی (OP)
آنابیز و آزمون پروفایلومتر اپتیکی (OP) : پروفایلومتر اپتیکی یک روش بر پایه ی تداخل غیر تماسی است که برای مشخصه یابی توپوگرافی سطح استفاده می …
طیف سنجی جرم یونی ثانویه، آنالیز SIMS
طیف سنجی جرم یونی ثانویه، آنالیز SIMS ،غلظت های بسیار کم دوپنت ها و ناحالصی ها را مشخص می کند. این آنالیز قادر به تأمین پروفایل …
طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS
طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS یک تکنیک تحلیلی سطحی است که باریکه ی پالسی از یون های ثانویه را بر روی سطح نمونه …
انعکاس کامل فلوئورسانس اشعه ایکس (TXRF)
از دیگر آزمون های موجود در آنابیز می توان به آزمون انعکاس کامل فلوئورسانس اشعه ایکس (TXRF) اشاره کرد که از تهییج سطح صیقل داده شده …
طیف سنجی کوپل القایی پلاسما (ICP-OES/MS)
آنابیز و آزمون طیف سنجی کوپل القایی پلاسما (ICP-OES/MS): روش های تحلیلی کوپل القایی پلاسما (ICP) دارای قابلیت اندازه گیری کمی محتوای عنصری یک ماده از …
روش میکروسکوپی پویش الکترونی،آنالیز SEM
روش میکروسکوپی پویش الکترونی،آنالیز SEM ،تصاویر با رزولوشن بالا و با عمق میدان طویل از سطح و نزدیک سطح نمونه تهیه می کند. SEM یکی از …
طیف سنجی الکترون بازگشتی رادرفورد ، آنالیز RBS
طیف سنجی الکترون بازگشتی رادرفورد ، آنالیز RBS ،از آزمون های موجود در آنابیز،یک تکنیکی یون بازگشتی است که برای آنالیز لایه های نازک کامپوزیتی استفاده …
کارماتو گرافی گازی – طیف سنجی جرمی (GC-MS)
کارماتو گرافی گازی – طیف سنجی جرمی (GC-MS) تکنیکی جهت آنالیز و محاسبه کمی عناصر نیمه فرّار و فرّار آلی است که از آزمون های موجود …
