دسته: آنالیزها و تجهیزات

آنالیزها و تجهیزاتتصویر برداری

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS)Time of flight secondary ion mass spectrometry)

نوشته شده توسط:

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویهTOF-SIMS)Time of flight secondary ion mass spectrometry) طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS یک تکنیک تحلیلی سطحی است …

آنالیزها و تجهیزاتتصویر برداری

پروفایلومتر اپتیکیOP)optical profiometry)

نوشته شده توسط:

پروفایلومتر اپتیکیOP)optical profiometry) آنابیز و آزمون پروفایلومتر اپتیکی (OP) : «پروفایلومتر» ابزار اندازه گیری پروفایل سطح و ضخامت لایه های مختلف به صورت دو بعدی و …

تجهیزاتتصویر برداری

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM) Scanning Electron Microscope) 

نوشته شده توسط:

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM) Scanning Electron Microscope) میکروسکوپ الکترونی روبشی یا SEM نوعی میکروسکوپ الکترونی است که قابلیت عکس‌برداری از سطوح با بزرگنمایی ۱۰ تا ۵۰۰۰۰۰ …

تجهیزاتتصویر برداری

میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM) Transmission Electron Microscope)

نوشته شده توسط:

 (TEM) Transmission Electron Microscope میکروسکوپ الکترونی عبوری یکی از تجهیزاتی که آنابیز در حوزه‌ی تصویر برداری ارائه می‌دهد میکروسکوپ الکترونی است. میکروسکوپ‌های الکترونی قابلیت بزرگنمایی تا …

آنالیزها و تجهیزات

انعکاس کامل فلوئورسانس اشعه ایکس (TXRF)

نوشته شده توسط:

از دیگر آزمون های موجود در آنابیز می توان به آزمون انعکاس کامل فلوئورسانس اشعه ایکس (TXRF) اشاره کرد که از تهییج سطح صیقل داده شده …

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی کوپل القایی پلاسما (ICP-OES/MS)

نوشته شده توسط:

آنابیز و آزمون طیف سنجی کوپل القایی پلاسما (ICP-OES/MS): روش های تحلیلی کوپل القایی پلاسما (ICP) دارای قابلیت اندازه گیری کمی محتوای عنصری یک ماده از …

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی الکترون بازگشتی رادرفورد ، آنالیز RBS

نوشته شده توسط:

طیف سنجی الکترون بازگشتی رادرفورد ، آنالیز RBS ،از آزمون های موجود در آنابیز،یک تکنیکی یون بازگشتی است که برای آنالیز لایه های نازک  کامپوزیتی استفاده …

آنالیزها و تجهیزات

کرماتو گرافی گازی – طیف سنجی جرمی (GC-MS)

نوشته شده توسط:

کرماتو گرافی گازی – طیف سنجی جرمی (GC-MS) تکنیکی جهت آنالیز و محاسبه کمی عناصر نیمه فرّار و فرّار آلی است که از آزمون های موجود …

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی رامان

نوشته شده توسط:

طیف سنجی رامان قادر به شناسایی ساختار شیمیایی نمونه و  تشخیص عناصر موجود با اندازه گیری ارتعاشات مولکولی درست مشابه با دستگاه FT-IR است. اما مزیت …

آنالیزها و تجهیزات

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

نوشته شده توسط:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ، تصاویری با رزولوشن اتمی یا نزدیک اتمی از توپوگرافی سطح را نمایش می‌ دهد. همچنین قادر به تشخیص سختی سطح نمونه …