برچسب: تصویربرداری

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS

نوشته شده توسط:

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS یک تکنیک تحلیلی سطحی است که باریکه ی پالسی از یون های ثانویه را بر روی سطح نمونه …

آنالیزها و تجهیزات

روش میکروسکوپی پویش الکترونی،آنالیز SEM

نوشته شده توسط:

روش میکروسکوپی پویش الکترونی،آنالیز SEM ،تصاویر با رزولوشن بالا و با عمق میدان طویل از سطح و نزدیک سطح نمونه تهیه می کند. SEM یکی از …

آنالیزها و تجهیزات

میکروسکوپ الکترونی عبوری و عبوری روبشی TEM

نوشته شده توسط:

میکروسکوپ الکترونی عبوری ( TEM ) و پویش میکروسکوپ الکترونی عبوری (STEM) ، ازنمونه آزمون های موجود در آنابیز ، دو تکنیک مشابه می‌ باشند که …