برچسب: طیف جرمی

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS

نوشته شده توسط:

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS یک تکنیک تحلیلی سطحی است که باریکه ی پالسی از یون های ثانویه را بر روی سطح نمونه …