برچسب: پروفایل عمق

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی جرم یونی ثانویه، آنالیز SIMS

نوشته شده توسط:

طیف سنجی جرم یونی ثانویه، آنالیز SIMS ،غلظت های بسیار کم دوپنت ها و ناحالصی ها را مشخص می کند. این آنالیز قادر به تأمین پروفایل …

آنالیزها و تجهیزات

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS

نوشته شده توسط:

طیف سنجی زمان پرواز جرم یون ثانویه TOF-SIMS یک تکنیک تحلیلی سطحی است که باریکه ی پالسی از یون های ثانویه را بر روی سطح نمونه …