آزمون ها


آزمون های موجود

آنالیز پراش اشعه ایکس (XRD)

کاربرد اصلی تعیین/کمی سازی فاز بلوری اندازه گیری اندازه متوسط کریستالیت، کشش یا اثرات میکروکشش در نمونه های فیلم نازک یا توده کمی سازی جهتگیری ترجیحی (بافت) در فیلم های نازک، دسته های چند لایه و قطعات ساخته شده تعیین نسبت بلور به مواد بی شکل در مواد توده و نمونه های فیلم نازک مشخصات فنی سیگنال آشکارسازی شده: اشعه های X پراشی عناصر آشکارسازی شده: تمامی عناصر، با فرض این که در شبکه کرستالی وجود دارند. محدودیت های آشکارسازی: آنالیز چند فازه کمی: حدود ۱% آنالیز کمی خروجی استاندارد: حدود ۰/۱% آنالیز کمی ویژه (کوارتز،پلی فرم ها): حدود ۰/۰۲ % کمترین ضخامت فیلم برای تعیین فاز: حدود ۲۰ آنگستروم رزولوشن عمق: عمق نمونه برداری قابل تنظیم بین حدود ۲۰ آنگستروم تا حدود ۳۰ میکرون، بسته به خواص مواد و زوایای برخورد اشعه x نصویربرداری/نقشه برداری: خیر رزولوشن جانبی/اندازه تخلخل: تمرکز نقطه: ۰/۱mm، تمرکز خط ۲mm تا ۱۲mm

خدمت آزمون های عمومی



1
آزمایشگاه

مشاهده و سفارش
Error
Whoops, looks like something went wrong.